High Accuracy Fluorescence Guided Focused Ion Beam Milling
Dieser Artikel stellt fortschrittliche fluoreszenzgestützte Kryo-FIB-Millings-Workflows vor, die unterschiedliche Targeting-Strategien für verschiedene Objektgrößen nutzen, um Registrierungsfehler zu überwinden und die routinemäßige, hochpräzise Erfassung sowohl großer als auch kleiner zellulärer Strukturen für die Kryo-Elektronentomographie zu ermöglichen.